恩德斯豪斯申请光谱测定测量方法和执行光谱测定测量方法的测量设备专利, 确定介质的测量光谱并丢弃已发生光学饱和的那些测量光谱

发布日期：2025-06-25 05:42    点击次数：193

金融界2025年6月17日消息，国家知识产权局信息显示，恩德斯豪斯分析仪表两合公司申请一项名为“光谱测定测量方法和执行光谱测定测量方法的测量设备”的专利，公开号CN120160992A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本发明涉及光谱测定测量方法和执行光谱测定测量方法的测量设备。本发明涉及光谱测定测量方法和用于测量液体介质的测量变量的测量设备，其中可能出现干扰物，包括其尺寸大于测量波长范围内的波长的空气泡、气体泡和/或颗粒。在此过程中，确定介质的测量光谱，并丢弃已经发生光学饱和的那些测量光谱。针对剩余的测量光谱中的每个确定介质光谱。在这种情况下，使用在介质的吸收系数变化小于预定光谱方差和/或低于极限值的光谱范围中在不存在干扰物的情况下预期的光谱特性的预定参考，进行检查以查看测量光谱是否包含由干扰物导致的偏移。在存在偏移的情况下，从对应的测量光谱减去偏移。最后，使用介质光谱来确定每个测量变量的测量值。

本文源自：金融界